Zuverlässigkeit von Relais bei der Qualifizierung von Halbleiterbauelementen
Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung
09/24/2013 - 09/26/2013 at Dresden, Deutschland
Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf
Pages: 4Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Heymann, Sandra; Rößler, Marko; Pätz, Christian; Heinkel, Ulrich (Technische Universität Chemnitz, Deutschland)
Maichen, Wolfgang; Kuhn, Harald (Infineon AG, Regensburg, Germany)
Abstract:
Elektromechanische Relais sind nicht in allen Fällen durch Halbleiterschalter zu ersetzen. Für den automatisierten Serientest von Halbleitern ist es zwingend notwendig nahezu ideale Schalter einzusetzen. Da die Relais in dieser speziellen Anwendung oftmals an den Grenzen ihrer Spezifikation und darüber hinaus betrieben werden müssen, ist es besonders wichtig sie auf ihre Zuverlässigkeit hin zu überprüfen und zu bewerten. In der vorliegenden Arbeit wurde ein Konzept entwickelt, das darauf abzielt die Parameter eines Relais im Betrieb zu überwachen. Der Weg dahin führt über Einzelmessungen der Parameter und einen Offline-Messplatz für Langzeitmessungen. Ziel ist es, Zusammenhänge zwischen Parameterwerten und Relaiszustand zu erkennen. Diese beiden Schritte sind Hauptbestandteil dieses Beitrags.