Offene Test- und Entwicklunsplattform für Mikrosysteme
Conference: Mikrosystemtechnik 2013 - Von Bauelementen zu Systemen
10/14/2013 - 10/16/2013 at Aachen, Deutschland
Proceedings: Mikrosystemtechnik 2013
Pages: 4Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Toszkowski, G.; Dahmen, N.; Dahmen, U.; Degen, C.; Göttert, J.; Hermanns, F. (Hochschule Niederrhein, Fachbereich Elektrotechnik und Informatik, Reinarzstraße 49, 47805 Krefeld, Deutschland)
Abstract:
Bei der Konzeption und Entwicklung moderner intelligenter Systeme (Smart Systems) sind systemtheoretische Methoden, Hardware- und Software-in-the-Loop-Testverfahren sowie die Integration von Modellbildungs- und Simulationstechniken zur Beschreibung des erwarteten Systemverhaltens von zunehmender Bedeutung. Dabei ist speziell für mikrotechnische Lösungen ein kontinuierliches Testen, Verifizieren und Optimieren während des komplexen Entwicklungsprozesses anzustreben. Dafür benötigte Mess- und Testkonfigurationen zeichnen sich durch einen flexiblen, leicht anpassbaren und mit Standardkomponenten erweiterbaren elektrischen Messplatz aus wie der beispielsweise von National Instruments entwickelten Entwurfs- und Prototypisierungs-Plattform ELVIS (Educational Laboratory Virtual Instrumentation Suite). In diesem Beitrag werden die Möglichkeiten von ELVIS anhand konkreter Entwicklungsbeispiele vorgestellt und diskutiert.