Absolut messendes EFPI-Messsystem
Conference: Sensoren und Messsysteme 2014 - Beiträge der 17. ITG/GMA-Fachtagung
06/03/2014 - 06/04/2014 at Nürnberg, Deutschland
Proceedings: Sensoren und Messsysteme 2014
Pages: 3Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Köppe, Enrico; Hofmann, Detlef; Daum, Werner (BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Berlin, Deutschland)
Abstract:
In diesem Paper wird ein absolut messendes faseroptisches Messsystem zur Bestimmung des Gap-Abstandes von niedrig reflektierenden losen und festen extrinsischer Fabry-Pérot Interferometer (EFPI) vorgestellt. Die häufigste Methode zur Bestimmung von Dehnungen oder Bewegungen durch EFPI-Sensoren ist eine kontinuierliche relative Ermittlung einer Veränderung mit einer nachträglichen Auswertung. Unterbrechungen in der Datenerfassung oder Fehler bei der Interferenzstreifen-Auswertung führen zu einer nicht abschätzbaren Messunsicherheit. Damit war es bis dato nicht möglich, eine absolute Veränderungen von eingesetzten EFPI-Sensoren zu bestimmen. Mit dem an der BAM entwickelten Verfahren, ist dies jetzt möglich, die absolute Veränderung zu bestimmen. Dieses System namens "EFPI-Scan" wird in dem Papier dargestellt werden.