Optische Charakterisierung von Stress-relaxierten aktiven MOEMS-Membranspiegeln mit großer Apertur

Conference: MikroSystemTechnik 2015 - MikroSystemTechnik Kongress 2015
10/26/2015 - 10/28/2015 at Karlsruhe, Deutschland

Proceedings: MikroSystemTechnik 2015

Pages: 4Language: germanTyp: PDF

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Authors:
Kronast, Wolfgang; Lange, Volker; Huster, Rolf; Mescheder, Ulrich (Hochschule Furtwangen, 78120 Furtwangen, Deutschland)

Abstract:
Mit einem von den Autoren bereits vorgestellten Konzept einer Stress relaxierenden Aufhängung wurden aktive Membranspiegel mit 6 mm Durchmesser hergestellt und verschiedene Designs des Spiegels mit optischen Verfahren charakterisiert. Eine statistisch signifikante Bewertung von 20 Membranen zeigt, dass die bei fest eingespannten Mik-rospiegeln in SOI-Technologie (Silicon On Insulator) aufgrund innerer Spannungen auftretenden Oberflächenverzer-rungen (buckling effect) stark reduziert werden konnten und eine Planität mit typischen Verzerrungen (distortion) im Bereich Deltaz = 50 nm – 100 nm und somit von hoher optischer Güte (Verzerrungen < λ/10, λ = 1064 nm) erreicht wur-den. Die Spiegel arbeiten im Fokussierbetrieb mit hoher Zuverlässigkeit. Die optische Charakterisierung der Spiegel im Fokussierbetrieb umfasste die direkte Messung der Spiegelverformung mit einem Weißlichtinterferometer und die Mes-sung der Abbildungseigenschaften wie Fokuslänge und Fokusqualität mittels der Messung des Strahlprofils eines vom Spiegel reflektierten ebenen Laserstrahls im Fokusbereich von 10 cm bis 1 m. Die Messergebnisse sind in guter Über-einstimmung mit FEM Simulationen des Spiegelprofils und optischen Simulationen mit der Software ZEMAX.