SystemC AMS basierte V&V-Methodik in der Mikrosystemtechnik

Conference: MikroSystemTechnik 2015 - MikroSystemTechnik Kongress 2015
10/26/2015 - 10/28/2015 at Karlsruhe, Deutschland

Proceedings: MikroSystemTechnik 2015

Pages: 4Language: germanTyp: PDF

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Authors:
Ehrlich, Paul; Schulz, Stephan (Fraunhofer Institute IIS/EAS, Zeunerstr. 38, 01069 Dresden, Deutschland)

Abstract:
Cyber Physical Systems gewinnen immer mehr an Bedeutung, was nicht zuletzt an dem enormen Wachstum der Integrationsfähigkeit und Miniaturisierung von Sensoren in Silizium bzw. anderen Materialen begründet ist. Der Komplexitätsanstieg des Gesamtsystems und die damit verbundenen höheren Entwicklungskosten haben zur Folge, dass eine abstraktere Modellierung sowie neue Testmethoden benötigt werden. Im Paper werden diese neuen Methodiken an einem Beispiel eines cyber-physikalischen Sensorknotens veranschaulicht. Dabei wird der Knoten mit SystemC AMS modelliert, einer Analog-Erweiterung von SystemC, welches den Einsatz von Komponenten anderer Domains ermöglicht wie z.B. der Mechanik. Diese abstrakten Modelle ermöglichen dabei nicht nur den Einstieg in die Algorithmen/ Steuerungsentwicklung der zukünftigen Prototypen, sondern auch dessen Verifikation, um Designfehler möglichst frühzeitig zu erkennen.