Robuste Erkennung von kombinierten Positions- und Identifizierungs-Mikromarkierungen

Conference: MikroSystemTechnik 2015 - MikroSystemTechnik Kongress 2015
10/26/2015 - 10/28/2015 at Karlsruhe, Deutschland

Proceedings: MikroSystemTechnik 2015

Pages: 3Language: germanTyp: PDF

Personal VDE Members are entitled to a 10% discount on this title

Authors:
Förtsch, Tobias C.; Bojnicic-Kninski, Clemens von; Khan, M. Shahbaz; Märkle, Frieder; Weber, Laura K.; Fischer, Andrea; Münster, Bastian; Ridder, Barbara; Althuon, Daniela; Striffler, Jakob; Sedlmayr, Martyna; Bykovskaya, Valentina; Popov, Roman; Soehindrijo, Miriam; Breitling, Frank; Löffler, Felix F.; Nesterov-Müller, Alexander (Institut für Mikrostrukturtechnik, Hermann-von-Helmholtz-Platz 1, 76344 Eggenstein-Leopoldshafen, Deutschland)

Abstract:
Die automatische Erkennung von Positionsmarkierungen kann bei geeigneter Gestaltung der Markierungen nicht nur fehlertolerant umgesetzt werden, sondern auch gleichzeitig eine Identifizierung der Werkstücke beinhalten. Wir haben systematisch Varianten von Mikromarkierungen ausgewählt und stellen eine Methode vor, mit der Positionsmarker auf µm genau und robust detektiert sowie 33.554.432 Identifikationsnummern kodiert werden können.