Untersuchungen zum Einfluss der Leitschichten auf die frequenzabhängige Verlustfaktormessung an VPE-isolierten Mittelspannungskabeln

Conference: VDE-Hochspannungstechnik 2016 - ETG-Fachtagung
11/14/2016 - 11/16/2016 at Berlin, Deutschland

Proceedings: ETG-Fb. 150: VDE-Hochspannungstechnik 2016

Pages: 6Language: germanTyp: PDF

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Authors:
Kühnert, Marcus; Hadid, Suleiman; Schufft, Wolfgang (Technische Universität Chemnitz, Chemnitz, Deutschland)

Abstract:
Es wird versucht die Frage zu beantworten, inwiefern die Leitschichten von VPE-isolierten Mittelspannungskabeln den dielektrische Verlustfaktor tan δ dieser beeinflussen. Es besteht die Annahme, dass der Verlustfaktor tan δ nur in einem bestimmten Frequenzbereich durch die Kabelisolierung dominiert wird. Oberhalb dieses Frequenzbereichs bestimmen die Leitschichten den Verlustfaktorverlauf. Mit Hilfe eines Simulationsmodells und der frequenzabhängigen Verlustfaktormessung wurde diese Annahme überprüft und genauer bestimmt, ab welchen Frequenzen der Einfluss der Leitschichten tatsächlich beginnt. Damit sind Rückschlüsse auf einen sinnvollen Frequenzbereich für die Messung des Verlustfaktors tan δ möglich. Zudem wurden Untersuchungen an der Grenzfläche VPE-Isolierung/ Leitschicht durchgeführt. Dabei konnten wichtige Erkenntnisse zum Einfluss dieser Grenzfläche auf den Verlustfaktor tan δ gewonnen werden. Die vorliegenden Ergebnisse ermöglichen eine bessere Analyse des frequenzabhängigen Verlustfaktors tan δ und damit eine zuverlässigere Aussage über den Ist-Zustand der Isolierung von VPE-isolierten Mittelspannungskabeln.