Absicherung von Kontaktgeometrien durch computergestützte dielektrische Spannungsfestigkeitsanalyse

Conference: VDE-Hochspannungstechnik 2016 - ETG-Fachtagung
11/14/2016 - 11/16/2016 at Berlin, Deutschland

Proceedings: VDE-Hochspannungstechnik 2016

Pages: 6Language: germanTyp: PDF

Personal VDE Members are entitled to a 10% discount on this title

Authors:
Glaser, Beate; Fuchs, Karsten; Sterz, Oliver; Krämer, Axel (Maschinenfabrik Reinhausen GmbH, Regensburg, Deutschland)

Abstract:
Dieser Beitrag zeigt, wie die computergestützte dielektrische Spannungsfestigkeitsanalyse im Produktentwicklungsprozess genutzt wird, um Änderungen aufgrund nicht-elektrischer Anforderungen an einem bestehenden Kontaktsystem abzusichern. Dafür wird das Streamerkriterium als eine etablierte Methode für die Bewertung der Spannungsfestigkeit in inhomogenen elektrischen Feldern vorgestellt und die Anwendung dieser Methode am vorliegenden Beispiel ausführlich gezeigt.