Hochauflösende Jittermessung für nachhaltige Lieferqualität und Testkostenreduktion

Abstract:
Neben der Charakterisierung von integrierten Schaltungen werden heute zusätzlich hochauflösende Messungen auch während des Produktionstests gefordert. Dieser unmittelbare Nachweis für die auszuliefernde Qualität der Produkte betrifft vermehrt die Messung des Zeitverhaltens der nach außen geführten Signale und Takte. In diesem Beitrag werden Konzept und Aufbau eines ASIC (Application Specific Integrated Circuit) zur statistischen Periodendauermessung vorgestellt. Das System und die erforderlichen Zeitmessungen für die Aufnahme und Verarbeitung des Jitters der Periodendauer werden beschrieben, und der Aufbau und die schaltungstechnische Implementierung der benötigten fein auflösenden Taktgeber besprochen.