Zuverlässigkeitserhöhung mit funktionalen Monitoren
Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
03/26/2007 - 03/28/2007 at München
Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf
Pages: 2Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Eveking, H.; Schickel, M.; Braun, M.; Nimbler, V. (Fachgebiet Rechnersysteme, Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik, Technische Universität Darmstadt)
Abstract:
Die bei sinkenden Strukturgrößen zu erwartende Fehleranfälligkeit mikroelektronischer Komponenten verlangt Mechanismen zur Beseitigung funktionaler Fehler. Die Benutzung funktionaler Monitore zur Erhöhung der Zuverlässigkeit wird diskutiert. Funktionale Monitore werden aus Eigenschaften konstruiert, die während der Verifikation eines Systems zur Spezifikation seiner Funktionalität entwickelt werden.