Verschleißmonitoring bei Hüftgelenkendoprothesen durch integrierte Mikrosensorik

Conference: Mikrosystemtechnik Kongress 2005 - Mikrosystemtechnik Kongress 2005
10/10/2005 - 10/12/2005 at Munich, Germany

Proceedings: Mikrosystemtechnik Kongress 2005

Pages: 4Language: germanTyp: PDF

Personal VDE Members are entitled to a 10% discount on this title

Authors:
Baum, M.; Otto, T. (Fraunhofer Institut Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM, Micro Devices and Equipment Chemnitz, Deutschland)
Hientzsch, M.; Geßner, T. (Fraunhofer Institut Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM, Micro Devices and Equipment Chemnitz, Deutschland )
Boese-Landgraf, J. (Klinikum Chemnitz gGmbH, Klinik für Chirurgie, Deutschland)

Abstract:
In diesem Beitrag werden Möglichkeiten und Prinzipien zur ständigen Überwachung des Verschleißes und des Funktionszustandes bei Hüftgelenkendoprothesen aufgezeigt und erste Ergebnisse einer messtechnischen Charakterisierung vorgestellt. Ziel dieser Untersuchung ist es, Einsatzmöglichkeiten von intelligenter Mikrosensorik durch experimentelle Charakterisierung zu bewerten und darzustellen, sowie Wege zur Senkung der Ausfallrate von Prothesen aufzuzeigen. Dadurch können sowohl die Belastung des Patienten als auch die Kosten teurer Revisionsoperationen und darauf folgender Rehabilitationen verringert werden.