EMV-Topologie basierte Analyse von Schirmdämpfungsmessverfahren
Conference: EMV 2006 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
03/07/2006 - 03/09/2006 at Düsseldorf, Germany
Proceedings: EMV 2006
Pages: 8Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Monje, Carolina Alonso; Helmers, Sven; Hoffmann, Detlef (Siemens AG, Center for Quality Engineering, Com CTO CQE CoC 1, München)
Abstract:
In der EMV-Analyse von Systemen besitzt der topologische Ansatz einen hohen Stellenwert, da er eine transparente Darstellung von Komponenten und Kopplungsmechanismen unterstützt. Neue rechnergestützte Verfahren auf Basis einer objektorientierten Modellierung ermöglichen eine schnelle Erfassung und Bewertung der EMV-Topologie eines Systems. Standardisierte Prüfverfahren, beispielsweise zur Bestimmung der Schirmwirkung von Gehäusen, legen definierte Messanordnungen fest. Diese lassen sich als System auffassen, was eine strukturierte, auf der Topologie basierte Beschreibung und Analyse aller möglichen elektromagnetischen Einflüsse auf das Prüfergebnis ermöglicht.