Netzwerkmodell für die Strahlungsanalyse von horizontalen Leiterplatten-Submodulen

Conference: EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
02/19/2008 - 02/21/2008 at Düsseldorf

Proceedings: EMV 2008

Pages: 8Language: germanTyp: PDF

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Authors:
Leone, Marco (OvG-Universität Magdeburg)
Valek, Martin (PM Siemens VDO Automotive)

Abstract:
Häufige Ursache für Abstrahlungsprobleme bei elektronischen Baugruppen sind Submodule, die aus Gründen eines kompakten und flexiblen Aufbaus auf einer Basisplatine aufgesteckt sind. Ein solches modulares Konzept birgt aus EMV-Sicht eine parasitäre Antennenstruktur in sich, die durch geringe hochfrequente Potenzialunterschiede zwischen der Submodul- und Gerätemasse zur Abstrahlung angeregt wird. Die Potenzialdifferenz entsteht durch hochfrequente Signale, die über den Leiterplatten- Verbindungsstecker geführt werden. Wie in einer Vorgängerarbeit für vertikale Subboards gezeigt werden konnte, reicht der dabei entstehende geringe induktive Spannungsabfall in der Signal-Rückstromimpedanz der Massepins durchaus aus, um den Strahlungsgrenzwert zu überschreiten. Dies ist insbesondere der Fall wenn Harmonische des über den Stecker geführten Signals in Resonanznähe liegen.