Schnelle Emissionsmessungen in Modenverwirbelungskammern
Conference: EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
02/19/2008 - 02/21/2008 at Düsseldorf
Proceedings: EMV 2008
Pages: 8Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Krauthäuser, H. G.; Nitsch, J. (Universität Magdeburg, IGET, Universitätsplatz 2, 39106 Magdeburg)
Abstract:
Die Modenverwirbelungskammer (MVK) ist inzwischen eine etablierte Messumgebung zur Durchführung von Störfestigkeits- und Störemissionsmessungen. Seit August 2003 sind die Mess- und Kalibrierabläufe international durch den Standard IEC 61000- 4-21 geregelt. Dieser Artikel widmet sich dem Problem der Bestimmung der insgesamt abgestrahlten Leistung eines Prüflings in der MVK. Hierbei wird eine Methode vorgestellt, die wesentlich einfacher und schneller in der Durchführung als die IECMethode ist. Die genaue Analyse wird zeigen, dass über die Bestimmung der abgestrahlten Leistung hinaus auch die Antenneneffektivität der Messantennen in der Kammer bestimmt werden kann. Dieses Nebenprodukt der Emissionsmessung kann auch für sich genutzt werden (ohne Prüfling in der Kammer) und ersetzt dann die sonst sehr aufwendige Bestimmung dieser Größe mit anderen Methoden.