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Techniken zur nachweislich vollständigen Verifikation von komplexen Schaltungen – neue Ansätze und Erfahrungen

Authors:
Formann, Johannes; Kimmeskamp, Thorsten; Echtle, Klaus; Tappe, Dominik; Weinberger, Katharina; Bulach, Slava; Mittag, Maximilian
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

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Test in der Produktentwicklung

Authors:
Engleitner, Sven
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

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Verbesserung der Strahlentoleranz von FPGAs für Experimente der Hochenergiephysik

Authors:
Gebelein, Jano; Engel, Heiko; Kebschull, Udo
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

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Walshfunktionen für das Testen von Mixed-Signal Schaltungen

Authors:
Tchegho, Aurelien; Gräb, Helmut; Sattler, Sebastian
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

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XP-SISR: Eingebaute Selbstdiagnose f ür Schaltungen mit Prüfpfad

Authors:
Elm, Melanie; Wunderlich, Hans-Joachim
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung

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Zero Defect: Anforderungen an Prozesse und IT-Systeme oder: Zuverlässigkeit durch Entwurf, notwendig aber nicht hinreichend

Authors:
Montino, Ralf
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung