1
Zerstörungsmechanismen in integrierten Schaltungen durch transiente elektromagnetische Feldimpulse kurzer Anstiegszeit
Authors:
Camp, Michael; Garbe, Heyno
Conference:
ANALOG '05 - 8. GMM/ITG-Diskussionssitzung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden
2
Zertifizierung der Konformität von Windenergieanlagen mit den spezifischen Anschlussbedingungen von Netzbetreibern
Authors:
Pitz, Volker; Schnettler, Armin; Weck, Karl-Heinz
Conference:
Internationaler ETG-Kongress 2005 - ETG-Kongress
3
Zur Alterung von Aluminium-Hochstromverbindungen unter besonderer Berücksichtigung des Kriechens der Leitermaterialien
Authors:
Schoft, Stephan
Conference:
Kontaktverhalten und Schalten - 18. Fachtagung Albert-Keil-Kontaktseminar
4
Zur Aussagekraft von Rückkehrspannungsmessungen als Diagnoseverfahren an Mittelspannungskabeln
Authors:
Kouzmine, Oleg; Patsch, Rainer
Conference:
Grenzflächen in elektrischen Isolierstoffen - ETG-Fachtagung
5
Zur Reduktion des Strukturellen Gleichungssatzes konservativer VHDL-AMS Modelle
Authors:
Shoufan, Abdulhadi; Huss, Sorin A.
Conference:
ANALOG '05 - 8. GMM/ITG-Diskussionssitzung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden
6
Zusammenspiel von Portfoliomanagement und Kraftwerkseinsatzoptimierung
Authors:
Wolter, Horst
Conference:
IT-Solutions in der Energieerzeugung - ETG-Fachtagung
7
Zustandsbewertung innerer Grenzflächen mittels Ultraschall
Authors:
Walter, Philipp; Wirz, Torsten; Cornelissen, Christian; Schnettler, Armin
Conference:
Grenzflächen in elektrischen Isolierstoffen - ETG-Fachtagung
8
Zuverlässigkeit komplexer Systeme
Authors:
Schließer, Randolf; Krueger, Sven
Conference:
Mikrosystemtechnik Kongress 2005 - Mikrosystemtechnik Kongress 2005
9
Zuverlässigkeit von Systemen der Leistungselektronik
Authors:
Roth-Stielow, Jörg
Conference:
Internationaler ETG-Kongress 2005 - ETG-Kongress
10
Zuverlässigkeit von Verteilungsnetzen: Wesentliche Einflüsse und vereinfachte Berechnung
Authors:
Vennegeerts, Hendrik; Obergünner, Markus
Conference:
Technische Innovationen in Verteilungsnetzen - ETG-Fachtagung
11
Zuverlässigkeitskonzepte von „Mikro bis Nano“ – Neue Anforderungen und Möglichkeiten der Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik
Authors:
Michel, B.
Conference:
Mikrosystemtechnik Kongress 2005 - Mikrosystemtechnik Kongress 2005