1
Masks for Flash Memory Gates for the 45nm node: Binary or attenuated?
Autoren:
Setten, Eelco van; Engelen, Andre; Finders, Jo; Dusa, Mircea
Konferenz:
EMLC 2007 - 23rd European Mask and Lithography Conference
2
Massensensitives Sensor-Fließsystem zur CRP-Diagnostik
Autoren:
Michalzik, M.; Balck, A.; Al-Halabi, L.; Hust, M.; Dübel, S.; Büttgenbach, S.
Konferenz:
MikroSystemTechnik - KONGRESS 2007
3
Material & Design Considerations for Zero Defect CMP Pads7
Autoren:
Carpio, R.; Tolic, F.; Hymes, S.; Bajaj, R.
Konferenz:
ICPT 2007 - International Conference on Planarization / CMP Technology
4
Materials Challenges in Planarization and Interconnect Technologies
Autoren:
Moinpour, Mansour
Konferenz:
ICPT 2007 - International Conference on Planarization / CMP Technology
5
Maximum-Likelihood Phase Estimation for Coherent Optical OFDM
Autoren:
Shieh, William
Konferenz:
ECOC 2007 - 33rd European Conference and Exhibition of Optical Communication
6
Measurement and Calculation of General Public Electromagnetic Exposure Around GSM and UMTS Cellular Base Stations
Autoren:
Bornkessel, Chr.; Schubert, M.; Wuschek, M.; Schmidt, P.
Konferenz:
INICA 2007 - International ITG-Conference on Antennas
7
Measurement of Constellation Diagrams for 40-Gb/s DQPSK and 60- Gb/s 8ary-DPSK Using Sampled Orthogonal Differential Direct-Detection
Autoren:
Liu, X.; Chandrasekhar, S.
Konferenz:
ECOC 2007 - 33rd European Conference and Exhibition of Optical Communication
8
Mechanisches Mikrosystem zur Wiederherstellung der Rückenmarkskontinuität bei Querschnittslähmung
Autoren:
Voss, Christian; Müller, Jörg
Konferenz:
MikroSystemTechnik - KONGRESS 2007
9
Mechatronisches Antriebskonzept für Getriebemotoren - hochgenaue geregelte Umrichter-Antriebe mit geringen Kosten
Autoren:
Fräger, Carsten
Konferenz:
SPS/IPC/DRIVES 2007 - SPS/IPC/DRIVES/Elektrische Automatisierung - Systeme und Komponenten - Fachmesse & Kongress
10
Media Delivery Based on Service Aware Transport Overlay Networks
Autoren:
Kampmann, Markus; Hartung, Frank
Konferenz:
KiVS 2007 - Kommunikation in Verteilten Systemen - 15. ITG/GI-Fachtagung
11
MEMS Characterization Technique Based on Special Designed Test-Structures
Autoren:
Shaporin, Alexey; Forke, Roman; Doetzel, Wolfram; Mehner, Jan
Konferenz:
MikroSystemTechnik - KONGRESS 2007
12
MEMS Mikrospiegelarrays für die Adaptive Optik
Autoren:
Gehner, Andreas; Wildenhain, Michael; Knobbe, Jens; Wagner, Michael
Konferenz:
MikroSystemTechnik - KONGRESS 2007
13
MEMS-Ultraschallwandlerarray für bildgebende Anwendungen
Autoren:
Koblitz, Jörn; Felix, Nicolas
Konferenz:
MikroSystemTechnik - KONGRESS 2007
14
Messungen zur Netzverträglichkeit in typischen VDSL2-Szenarien
Autoren:
Oswald, Erik; Leibiger, Mathias
Konferenz:
Kommunikationskabelnetze - 14. ITG-Fachtagung
15
Metall-Kapillardruckgießen und Dampfphasen- Schmelzinfiltration: zwei innovative Verfahren für das Herstellen metallischer Mikrobauteile
Autoren:
Bach, Fr.-W.; Möhwald, K.; Hartz, K.
Konferenz:
MikroSystemTechnik - KONGRESS 2007
16
Method for the Determination of a Quality-of-Transmission Estimator along the Lightpaths of Partially Transparent Networks
Autoren:
Lavigne, B.; Leplingard, F.; Lorcy, L.; Balmefrezol, E.; Antona, J. C.; Zami, T.; Bayart, D.
Konferenz:
ECOC 2007 - 33rd European Conference and Exhibition of Optical Communication
17
Methode zur Berechnung des Einflusses mechanischer Verformung auf Funktionsparameter mikromechanischer Sensoren
Autoren:
Rank, Holger; Maas, Ramona; Heitz, Markus; Mehner, Jan; Gessner, Thomas
Konferenz:
MikroSystemTechnik - KONGRESS 2007
18
Methode zur Verbesserung der Planarität von Flächenlichtmodulatoren
Autoren:
Dürr, Peter; Kunze, Detlef; Ludewig, Thomas; Wolschke, Steffen; Dauderstädt, Ulrike; Wagner, Michael; Lakner, Hubert
Konferenz:
MikroSystemTechnik - KONGRESS 2007
19
Methoden zur Antwortzeitanalyse in vernetzten Automatisierungssystemen
Autoren:
Greifeneder, Jürgen; Liu, Liu; Frey, Georg
Konferenz:
SPS/IPC/DRIVES 2007 - SPS/IPC/DRIVES/Elektrische Automatisierung - Systeme und Komponenten - Fachmesse & Kongress
20
Metrology capabilities and performance of the new DUV Scatterometer of the PTB
Autoren:
Wurm, Matthias; Bodermann, Bernd; Pilarski, Frank
Konferenz:
EMLC 2007 - 23rd European Mask and Lithography Conference