Cover IEC 60512-25-3:2001
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IEC 60512-25-3:2001

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation

Ausgabedatum: 2001-07
Edition: 1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 23 VDE-Artnr.: 200284

Inhaltsverzeichnis

Describes a method for measuring the effect a specimen has on the rise time of a signal passing through it.