DIN IEC/TS 62915 VDE V 0126-75:2025-12

Dieses Dokument führt einen einheitlichen Ansatz zur Beibehaltung von Bauartzulassung, Bauarteignung und Sicherheitsqualifikation von terrestrischen PV-Modulen ein, deren ursprünglich beurteilte Bauart verändert wurde oder verändert werden wird. Dieses Dokument behandelt zwei Technologiearten von PV-Modulen, und zwar die waferbasierten Technologien (WBT) und die monolithisch integrierten (MLI) Dünnschichttechnologien. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich dieses Dokumentes. Gegenüber DIN IEC/TS 62915 (VDE V 0126-75):2021-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Frühere Verweisungen auf spezifische prozessbezogene Änderungen an PV-Modulen wurden in dieser Ausgabe gestrichen und durch eine allgemeine Anforderung ersetzt, um sicherzustellen, dass ein einheitliches Qualitätsmanagementsystem nach IEC 62941 besteht. b) Verweisungen auf IEC 61215 und IEC 61730 wurden auf die neuesten Ausgaben (2021 bzw. 2023) aktualisiert. c) In dieser Ausgabe werden Anforderungen an Wiederholungsprüfungen in Bezug auf neu hinzugefügte Prüfungen, wie die zyklische (dynamische) mechanische Belastungsprüfung (MQT 20) und die Prüfung auf spannungsinduzierte Degradation (MQT 21), behandelt. d) Anforderungen an Widerholungsprüfungen in Bezug auf IEC 61215 und IEC 61730 wurden aus Gründen der besseren Übersichtlichkeit ausgegliedert. e) In dieser Ausgabe wird eine umfassende Matrixtabelle bereitgestellt, die alle Anforderungen an Wiederholungsprüfungen für jede mögliche Änderung von Werkstoffen oder Konstruktionsänderungen zusammenfasst. f) Diese Ausgabe enthält Verweisungen auf Normen auf der Bauteilebene, und zwar die Normenreihen IEC 62788-1 und IEC 62788-2, um Änderungen zu berücksichtigen, die unter Umständen an kritischen Teilkomponenten vorgenommen werden, die in neue Konstruktionen von PV-Modulen eingehen. g) Zur Übereinstimmung mit der Nomenklatur in den aktualisierten Normen IEC 61215 und IEC 61730 wurden die Verweisungen auf kristallines Silizium und Dünnschichten aktualisiert; das betrifft die waferbasierte Technologie (en: wafer-based technology, WBT) und monolithisch integrierte (en: monolithically integrated, MLI) Dünnschicht-PV-Module. h) In dieser Ausgabe wurde 4.3 mit den Anforderungen an Wiederholungsprüfungen für MLI-Dünnschicht-PV- Module gekürzt und vereinfacht, indem redundante, mit den Unterabschnitten in 4.2 identische Abschnitte gestrichen wurden. i) In diese Ausgabe wurde ein Leitfaden für die Wiederholungsprüfung von Modulen nach IEC TS 63126, „Leitfaden zur Eignungsprüfung von PV-Modulen, Bauteilen und Werkstoffen zum Betrieb bei hohen Temperaturen“, aufgenommen. j) In dieser Ausgabe wurden Anforderungen für Änderungen hinzugefügt, die die Kompatibilität des Systems mit Bauarten des gleichen Modells betreffen. Änderungen bei Werkstoffauswahl, bei Bauteilen und im Fertigungsprozess können sich auf das elektrische Betriebsverhalten, Zuverlässigkeit und Sicherheit der veränderten Produkte auswirken. In diesem Dokument sind typische Änderungen und die sich ergebenden Anforderungen für Wiederholungsprüfungen auf der Grundlage verschiedener Prüfnormen aufgeführt. Es bietet Unterstützung, aber auf einer bestimmten Ebene ist unter Umständen technisches Urteilsvermögen erforderlich. Die Prüffolgen wurden so ausgewählt, dass nachteilige Änderungen am Produkt identifiziert werden. Von den Produkten, die die hier festgelegten Prüffolgen erfolgreich durchlaufen, wird angenommen, dass sie den Normen entsprechen, gegenüber denen sie bei ihrer grundlegenden Qualifizierung beurteilt wurden. Die Anzahl von Prüflingen, die in das Wiederholungsprüfprogramm einzubeziehen ist, und die Annahme-/Ablehnungskriterien sind in den verwiesenen Normen IEC 61215 und IEC 61730 aufgeführt. Zusätzlich dürfen repräsentative Prüflinge nach der Beschreibung in IEC 61215 und IEC 61730, wie zutreffend, angewendet werden.