DIN EN 61788-16 VDE 0390-16:2013-11
Supraleitfähigkeit
Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
(IEC 61788-16:2013); Deutsche Fassung EN 61788-16:2013
Art/Status:
Norm,
gültig
Ausgabedatum: 2013 -11
VDE-Artnr.: 0300018
Der Gegenstand dieses Dokuments umfasst die Beschreibung des Standard-Messverfahrens des leistungsabhängigen Oberflächenwiderstandes von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen nach der Saphirresonator-Methode. Messgröße ist die Leistungsabhängigkeit dieses Widerstandes bei der Resonanzfrequenz.
Die folgenden geeigneten Messbereiche zur Bestimmung der Oberflächenwiderstände für diese Methode sind:
Frequenzen bis max. 10 GHz
Eingangs-Mikrowellenleistung kleiner als 37 dBm (5 W)
Die Angaben des Oberflächenwiderstandes bei der gemessenen Frequenz und die auf 10 GHz skalierten Werte sind zum Vergleich anzugeben.
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