DIN EN 61788-15 VDE 0390-15:2012-08
Supraleitfähigkeit
Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik – Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen
(IEC 61788-15:2011); Deutsche Fassung EN 61788-15:2011
Art/Status:
Norm,
gültig
Ausgabedatum: 2012 -08
VDE-Artnr.: 0390025
Dieser Teil der IEC 61788 beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz (ZS) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mit Hilfe eines modifizierten dielektrischen Resonatorverfahrens im Doppelresonanzmodus [13, 14]. Gegenstand der Messung ist, die Temperaturabhängigkeit des intrinsischen ZS bei der Resonanzfrequenz zu erhalten.
Der Frequenzbereich und die Messauflösung für das intrinsische ZS von HTS-Filmen sind wie folgt:
- Frequenz: ca. 40 GHz
- Messauflösung: 0,01 Milliohm bei 10 GHz
Die Daten für das intrinsische ZS bei der gemessenen Frequenz sowie die - unter der Annahme des f2–Gesetzes für den intrinsischen Oberflächenwiderstand RS (f kleiner 50 GHz) und des f-Gesetzes für die intrinsische Oberflächenreaktanz XS zum Vergleich - auf 10 GHz skalierten Daten sollen angegeben werden.
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