Cover DIN EN 55017 VDE 0565-17:2012-04
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DIN EN 55017 VDE 0565-17:2012-04

Verfahren zur Messung der Entstöreigenschaften von passiven EMV-Filtern

(CISPR 17:2011); Deutsche Fassung EN 55017:2011
Art/Status: Norm, gültig
Ausgabedatum: 2012-04
VDE-Artnr.: 0565038

Inhaltsverzeichnis

Diese Norm enthält die Deutsche Fassung der Europäischen Norm EN 55017:2011 und ist identisch mit der Internationalen Norm CISPR 17:2011. Sie legt Verfahren zur Messung der Entstöreigenschaften von passiven EMV-Filtern, die in Stromversorgungs- und Signalleitungen eingesetzt werden, fest. Die festgelegten Verfahren können auch auf Kombinationen von Überspannungsschutzgeräten und EMV-Filtern angewendet werden. Die Messverfahren decken den Frequenzbereich von 9 kHz bis zu mehreren GHz ab, abhängig vom Gerät und der Prüfschaltung.
Die Entstöreigenschaften von EMV-Filtern und Komponenten, die zur Unterdrückung elektromagnetischer Störgrößen verwendet werden, sind von zahlreichen Variablen abhängig, wie z. B. der Impedanz der Stromkreise, mit denen sie verbunden werden, der Betriebsspannung und des Betriebsstroms sowie der Umgebungstemperatur.
Diese Norm legt einheitliche Prüfverfahren fest, die den Vergleich von Filter- und Entstöreigenschaften, wie sie durch Prüflaboratorien ermittelt oder von Herstellern angegeben werden, ermöglichen. Verfahren zur Anwendung im Labor („Laborprüfungen“) (Typprüfungen) als auch zur Anwendung beim Hersteller („Fabrikprüfungen“) mit und ohne Lastbedingungen werden beschrieben. Hierzu zählt die Messung der Einfügungsdämpfung. Verfahren zur Messung der Impedanz und der S-Parameter von elektromagnetischen Entstörgeräten und -komponenten wurden ebenfalls in die Norm aufgenommen.
Messungen unter Belastungsbedingungen werden zur Bestimmung des möglichen nichtlinearen Verhaltens von EMV-Filtern, wie z. B. das Auftreten von Sättigungseffekten in Spulen mit Magnetkern, durchgeführt. Diese Prüfungen dienen dem Zweck, die Verwendbarkeit in einer besonderen Anwendung (wie z. B. einem Frequenzumrichter, der Gleichtakt-Impulsströme mit hohen Amplituden erzeugt und damit Spulen in Sättigung bringen kann) zu zeigen. Messungen unter Belastungsbedingungen können weggelassen werden, wenn das nichtlineare Verhalten durch andere Verfahren (z. B. getrennte Messung der Sättigung der verwendeten Spulen) bestimmt werden kann.
Für die Messung der Impedanz von EMV-Filtern werden eine direkte und eine indirekte Methode spezifiziert.
Beispiele von EMV-Filtern und anwendbare Messverfahren sind in der Tabelle 1 der Norm dargestellt.
Die Messaufbauten müssen kalibriert werden und Unsicherheiten, die mit den vorstehenden Messungen verbunden sind, müssen betrachtet werden. Zu diesen Zwecken enthält die Norm ebenfalls Festlegungen. Außerdem trifft sie Festlegungen für die Darstellung der Ergebnisse der Messungen (Messbericht).
Die Anhänge enthalten u. a. Beispiele für Prüfkästen und Informationen für die Realisierung des Puffernetzwerks, die bei der Messung der Einfügungsdämpfung benutzt werden, sowie Informationen zum Aufbau für die Impedanz- und die S-Parameter-Messung.