Cover DIN EN 60793-1-43 VDE 0888-243:2015-12
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DIN EN 60793-1-43 VDE 0888-243:2015-12

Lichtwellenleiter

Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren – Numerische Apertur

(IEC 60793-1-43:2015); Deutsche Fassung EN 60793-1-43:2015
Art/Status: Norm, gültig
Ausgabedatum: 2015-12
VDE-Artnr.: 0800281

Inhaltsverzeichnis

Dieser Teil der IEC 60793 legt einheitliche Anforderungen für die Messung der numerischen Apertur für Lichtwellenleiter fest, wobei dies der Überprüfung von Lichtwellenleitern und Kabeln in kommerziellen Anwendungen dient.
Die numerische Apertur (NA) einer Mehrmodenfaser der Kategorie A1, A2, A3 und A4 ist ein wichtiger Parameter, der die Fähigkeit der Faser beschreibt, Licht aufzunehmen. Sie dient dazu, die Ankopplungswirksamkeit vorauszusagen, außerdem gibt sie Aufschluss über die Spleißverluste und das Mikro-/Makrokrümmungsverhalten.
Die numerische Apertur wird durch Messen des Fernfeldmusters (NAff) bestimmt. Teilweise wird in der Literatur die theoretische numerische Apertur (NAth) angewandt, die aus der Messung der Differenz der Brechungsindizes zwischen Kern und Mantel bestimmt wird. Idealerweise sollten diese beiden Methoden die gleichen Werte ergeben.

Dieses Normdokument ist eine Ersetzung für:
DIN EN 60793-1-43 VDE 0888-243:2002-11

Gegenüber DIN EN 60793-1-43 (VDE 0888-243):2002-11 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Erweiterung um die Faserkategorien A2, A3 und A4;
b) Ergänzung der inversen Fernfeldmessung (Verfahren 4 zur winkelabhängigen Fernfeld-Intensitätsverteilung);
c) Ergänzung des informativen Anhanges A zur Berücksichtigung der Probenlänge für MA-Messungen;
d) Ergänzung des informativen Anhanges B mit produktspezifischen Vorgabewerten für die Fernfeldmessung;
e) Redaktionelle Überarbeitung des gesamten Dokuments.