DIN EN 62433-2 VDE 0847-33-2:2017-10

Für die leitungsgeführten elektromagnetischen Aussendungen bei integrierte Schaltungen (IC) gibt es hauptsächlich zwei Verursacher:
- die leitungsgeführten Aussendungen durch Stromversorgungsanschlüsse und die Strukturen der Bezugserde;
- die leitungsgeführten Aussendungen durch Eingangs-/Ausgangsanschlüsse (I/O).
Das in diesem Dokument beschriebene ICEM-CE-Modell für die Simulation des Verhaltens integrierter Schaltungen bei elektromagnetischen Aussendungen berücksichtigt diese zwei Arten der Verursachung in einem einzigen Ansatz.
Dieses Dokument beschreibt Makromodelle integrierter Schaltungen (IC) für die Simulation leitungsgeführter elektromagnetischer Aussendungen auf einer Leiterplatte. Diese Modellierung wird allgemein als Modellierung der EMV-Eigenschaften integrierter Schaltungen – leitungsgeführte Aussendung (ICEM-CE; en: Integrated Cricuit Emission Model – Conducted Emission) bezeichnet.
Das ICEM-CE-Modell dient ebenso zur Modellierung einer Chip-Schaltung, eines Funktionsblocks und eines programmierbaren Bausteins (IP). Das ICEM-CE-Modell kann sowohl zur Modellierung von analogen als auch von digitalen ICs angewandt werden.
Die Norm definiert Strukturen und Komponenten der Makromodellierung für die Simulation elektromagnetischer Beeinflussung unter Berücksichtigung der internen Aktivitäten von integrierten Schaltungen.
Diese Norm besteht aus zwei Teilen:
- der erste Teil enthält die elektrische Beschreibung der Elemente des ICEM-CE-Modells zusammen mit den spezifischen Anforderungen an die Informationen;
- der zweite Teil beschreibt ein universelles Datenaustauschformat, welches als CEML bezeichnet wird und auf XML basiert. Mit diesem Format ist eine gebrauchsfähige und allgemeine Form der Codierung des ICEM-CE für die Simulation von leitungsgeführten Aussendungen möglich.
Gegenüber DIN EN 62433-2:2010 wurde ein XML-basiertes Austauschformat ergänzt, mit dem das Modell dargestellt wird. Zudem wird das Dokument in das VDE-Vorschriftenwerk aufgenommen.