DIN EN IEC 61967-8 VDE 0847-21-8:2024-10

Mit diesem Messverfahren wird eine Methode zur Messung der abgestrahlten elektromagnetischen Aussendung von einer integrierten Schaltung (IC) mit einer IC-Streifenleitung festgelegt. Die zu bewertende integrierte Schaltung ist auf einer EMV-Prüfleiterplatte befestigt und befindet sich zwischen dem aktiven Leiter und der Massefläche der IC-Streifenleiteranordnung. Dieses Prüfverfahren beruht auf dem Messprinzip mit TEM-Wellenleiter nach IEC 61000-4-20. Der Zweck dieses Messverfahrens besteht darin, ein quantitatives Maß der HF-Abstrahlungen von ICs zu Vergleichszwecken oder anderen Zwecken bereitzustellen. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Die IC-Streifenleitung bietet ein breitbandiges Messverfahren für die Störfestigkeit eines zu prüfenden Bauelements gegen Felder, die innerhalb der IC-Streifenleitung erzeugt werden, oder auch für abgestrahlte Aussendungen eines zu prüfenden Bauelements, das innerhalb der IC-Streifenleitung untergebracht ist.