Cover DIN EN 62132-2 VDE 0847-22-2:2011-07
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DIN EN 62132-2 VDE 0847-22-2:2011-07

Integrierte Schaltungen – Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit

Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen – TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren

(IEC 62132-2:2010); Deutsche Fassung EN 62132-2:2011
Art/Status: Norm, gültig
Ausgabedatum: 2011-07
VDE-Artnr.: 0847092

Inhaltsverzeichnis

Die vorliegende Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente (HF) elektromagnetische Störstrahlung fest. Der Frequenzbereich dieses Verfahrens reicht von 150 kHz bis 1 GHz oder wird durch die Grenzen der Kennwerte der TEM-Zelle festgelegt.
Eine TEM-Zelle ist ein räumlich geschlossener TEM-Wellenleiter, oft eine rechteckige Koaxialleitung, in dem sich eine transversale elektromagnetische Welle ausbreitet, so dass ein definiertes Feld für Prüfzwecke erzeugt wird; dabei umschließt der Außenleiter den Innenleiter vollständig. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um eine Vorhersage des Risikos der elektromagnetischen Störung integrierten Schaltungen unter dem Einfluss von Hochfrequenzfeldern zu ermöglich.
Zukünftige Normen dieser Reihe tragen den angegebenen neuen allgemeinen Titel und werden als Messvorschrift für EMV in die entsprechende Reihe mit der VDE-Klassifikation 0847-22 aufgenommen. Die Titel der bestehenden Normen dieser Reihe werden mit der nächsten Ausgabe aktualisiert und diese werden dann ebenfalls mit der VDE-Klassifikation 0847-22 in das VDE-Vorschriftenwerk aufgenommen.