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E DIN EN IEC 60749-26 VDE 0884-749-26:2025-10

Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren

Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) – Human Body Model (HBM)

(IEC 47/2882/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-26:2024
Art/Status: Norm-Entwurf, gültig
Ausgabedatum: 2025 -10   Erscheinungsdatum: 2025-09 -26
VDE-Artnr.: 1800948
Ende der Einspruchsfrist: 2025-11-26

In diesem Dokument wird das Verfahren für die Prüfung, Bewertung und Klassifizierung von Bauteilen und Mikroschaltungen nach ihrer Anfälligkeit (Empfindlichkeit) gegen Beschädigung oder Funktionsbeeinträchtigung festgelegt, wenn diese Bauteile mit den im Human-Body-Modell (HBM) definierten elektrostatischen Entladungen (ESD) (en: electrostatic discharge) beansprucht werden.
Der Zweck dieses Dokuments ist die Festlegung eines Prüfverfahrens, mit dem HBM-Ausfälle wiederholt erzeugt werden und welches ungeachtet der Art des Bauteils von Prüfeinrichtung zu Prüfeinrichtung zuverlässige und wiederholbare HBM-ESD-Prüfergebnisse liefert. Wiederholbare Daten lassen präzise Klassifizierungen und Vergleiche der HBM-ESD-Empfindlichkeitspegel zu.
Es gibt keine besonderen Einschränkungen.
Gegenüber DIN EN IEC 60749-26 (VDE 0884-749-26):2018-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) neue Definitionen wurden hinzugefügt;
b) Text wurde hinzugefügt, um die Bezeichnung und die zulässigen Abweichungen aufgrund „geringer parasitärer Elemente“ zu erläutern. Die neue Bezeichnung umfasst die maximale Anzahl von Anschlüssen eines Bauelements, das das Prüfverfahren bestehen kann.

Gegenüber DIN EN IEC 60749-26 (VDE 0884-749-26):2018-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) neue Definitionen wurden hinzugefügt;
b) Text wurde hinzugefügt, um die Bezeichnung und die zulässigen Abweichungen aufgrund „geringer parasitärer Elemente“ zu erläutern. Die neue Bezeichnung umfasst die maximale Anzahl von Anschlüssen eines Bauelements, das das Prüfverfahren bestehen kann.