E DIN EN IEC 63550-1 VDE 0884-3550-1:2026-05
Halbleiterbauelemente – Neuromorphe Bauelemente
Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen
(IEC 47/2943/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-1:2025
Art/Status:
Norm-Entwurf,
gültig
Ausgabedatum: 2026 -05 Erscheinungsdatum:
2026-04 -03
VDE-Artnr.: 1801044
Ende der Einspruchsfrist:
2026-06-03
Dieser Teil von IEC 63550-1 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der grundlegenden Eigenschaften von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in dieser Internationalen Norm umfassen Initialisieren, Auslesen, Formieren, Potenzieren und Depression. Dieses Dokument ist anwendbar für neuromorphe Memristor-Bauelemente mit 2 Anschlüssen ohne Einschränkungen in Bezug auf Bauelementetechnologie und -größe.
Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments.
Durch seine Anwendung erhöht das Dokument die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender, gibt Prüflaboratorien und Herstellern definierte Informationen für die Prüfung und erhöht die Kompatibilität der Produkte zwischen den Herstellern.
Dieses Dokument wird folgenden, in Fettschrift gekennzeichneten, Fachgebiet(en) zugeordnet:
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