Alterungsphänomene in der inneren Leitschicht von polymerisolierten Mittelspannungskabeln

Konferenz: Grenzflächen in elektrischen Isolierstoffen - ETG-Fachtagung
08.03. - 09.03.2005 in Hanau

Tagungsband: Grenzflächen in elektrischen Isolierstoffen

Seiten: 5Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Brüggemann, M.; Kalkner, W. (Technische Universität Berlin, Institut für Energie- und Automatisierungstechnik, Fachgebiet Hochspannungstechnik, Deutschland)
Lübbe, F.; Zeitz, B. (Pirelli Kabel und Systeme, Schwerin, Deutschland)

Inhalt:
Polymerisolierte Mittelspannungskabel unterliegen verschiedenen Alterungsprozessen, welche die Restfestigkeit herabsetzen können, insbesondere wenn Feuchtigkeit in das Isoliersystem eingetreten ist. Die positiven Betriebserfahrungen mit dreifachextrudierten Mittelspannungskabeln haben zwar gezeigt, dass die Veränderung der elektrischen Eigenschaften der Kabel während des Betriebes, aber auch nach künstlicher Langzeitalterung akzeptabel sind, jedoch ist es für die weitere Verbesserung der Kabel von Interesse, die komplexen Alterungsprozesse noch besser zu verstehen. Insbesondere der Einfluss von Alterungsphänomenen in der inneren Leitschicht wie SIED und Ion-Tracks, welche in der Isolierung leitfähige und somit schnell vorwachsende vented trees initiieren können, ist bislang noch nicht vollständig geklärt. Im vorliegenden Beitrag werden die Ergebnisse mikroskopischer Untersuchungen von nach CENELEC langzeitgealterten Prüfmustern vorgestellt und der Einfluss von SIED und Ion-Tracks auf die Ausbildung von vented treeing während der Feuchtealterung diskutiert.