Entwurf einer elektronischen Last für den Test von Spannungsreglern

Konferenz: ANALOG '08 - Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden - Schwerpunkt: Constraint-basierte Entwurfsmethoden - 10. GMM/ITG-Fachtagung
02.04.2008 - 04.04.2008 in Siegen

Tagungsband: ANALOG '08

Seiten: 5Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Zemko, C.; Mejri, J.; Sattler, S. (Infineon Technologies, Neubiberg, Deutschland)
Mathis, W. (Institut für Theoretische Elektrotechnik , Leibniz Universität Hannover, Deutschland)

Inhalt:
Komplexe Systeme wie Handys bestehen aus mehreren Komponenten und haben anspruchsvolle Anforderungen an das Energiemanagement. Die Komponenten haben verschiedene Versorgungsspannungen und stellen unterschiedliche Anforderungen an solche Schaltungseigenschaften wie Leistungsverbrauch, Rauschen und Power-Supply-Rejection-Ratio (PSRR). Anstatt mehrere Linearspannungsregler einzusetzen, wird eine einzelne Power Management Unit benutzt. Ein solches Power Management IC (Integrated Circuit) enthält meistens analoge Elemente und besteht hauptsächlich aus Linearspannungsreglern und digitale Systeme zur Steuerung. Die Komplexität des Systems „Power Management Unit“ führt im Produktionstest zu neuen Herausforderungen. Dieser Artikel untersucht den Entwurf einer elektronischen Last für den Produktionstest von sogennanten „Low Voltage Power Management“ ICs.