Untersuchungen zum dielektrischen Verhalten von Mittelspannungskabelgarnituren

Konferenz: Grenzflächen in elektrischen Isoliersystemen - 3. ETG-Fachtagung
16.09.2008 - 17.09.2008 in Würzburg

Tagungsband: Grenzflächen in elektrischen Isoliersystemen

Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF

Persönliche VDE-Mitglieder erhalten auf diesen Artikel 10% Rabatt

Autoren:
Eisemann, D.; Henningsen, C.-G. (Vattenfall Europe Berlin AG & CO KG)
Geyer, W.; Kalkner, W. (FG Hochspannungstechnik TU-Berlin)
Kumm, T. (FNN im VDE)

Inhalt:
In der Vor-Ort-Diagnostik an verlegten Kabelsystemen ist zur Bestimmung des Alterungszustandes bzw. Schädigungsgrades die Kenntnis darüber, welche Randbedingungen eine zutreffende Bewertung erschweren oder unmöglich machen, von hoher Bedeutung. Die Identifizierung dieser Faktoren und das Wissen über die jeweilige Größe des Einflusses erhöhen die Qualität der Diagnose signifikant. Mittelspannungsverbindungsgarnituren weisen aufgrund ihrer Bestandteile bzw. ihres Aufbaus vom Kabel stark abweichende dielektrische Eigenschaften auf. Bei der messtechnischen Erfassung dieser Eigenschaften ist die Abhängigkeit von unterschiedlichen Parametern (z. B. elektrische Feldstärke, Frequenz und Temperatur) zu berücksichtigen. In Laboruntersuchungen wurden die Verlustfaktor- und Kapazitätsänderungen von zwei unterschiedlichen warmschrumpfenden Verbindungsmuffen in einem Temperaturbereich von 2 °C bis 70 °C bei unterschiedlichen Spannungshöhen und Frequenzen der sinusförmigen Messspannung ermittelt und die Ergebnisse verglichen. Die dielektrischen Eigenschaften dieser Muffentypen stellen für die Diagnostik eine wichtige und nicht zu vernachlässigende Information dar.