Test von Analogschaltungen mit Versorgungsspannungstransiente

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Die Fehlerdetektion bei analogen Schaltungen ist häufig zeitaufwändiger und damit teurer als die in digitalen. In der digitalen Domäne haben sich hierbei sowohl statische als auch dynamische Versorgungsstromtests als wirksam erwiesen. In diesem Artikel wird eine auf Versorgungsstrombeobachtung basierende Möglichkeit zur Fehlerdetektion in analogen Schaltungen vorgestellt. Während die Versorgungsspannung rampenförmig zwischen VDD und VSS variiert, wird der Versorgungsstrom aufgezeichnet und diese Signatur mit dem Toleranzband eines Golden Devices verglichen. Die Schwere eines auftretenden Fehlers wird durch variable ohmsche Widerstände abgebildet. Als Testschaltung wird ein Operationsverstärker analysiert, die Ergebnisse beruhen auf Simulationsdaten. Die Produktionstestzeit richtet sich nach der Dauer der Versorgungsspannungsrampe.