Test in der Produktentwicklung

Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
21.09.2009 - 23.09.2009 in Stuttgart, Germany

Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf

Seiten: 4Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Engleitner, Sven (NN, München)

Inhalt:
In den Entwicklungsprozessen der Halbleiterindustrie liegt der Schwerpunkt in vielen Fällen auf pre-Silicon Themen wie Produktdefinition und Implementierung. Während die post-Silicon Validierung noch gewisse Aufmerksamkeit genießt, wird Testentwicklung, vor allem aber auch Testoptimierung oft vernachlässigt oder besitzt einen geringen Stellenwert. Die folgenden Ausführungen sind ein Plädoyer für die nachhaltige Investition in Testthemen um zum einen Kosten zu sparen, vor allem aber um eine gleich bleibende Produktqualität zu gewährleisten und bei Qualitätsproblemen schnell reagieren zu können.