Zero Defect: Anforderungen an Prozesse und IT-Systeme oder: Zuverlässigkeit durch Entwurf, notwendig aber nicht hinreichend

Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
21.09.2009 - 23.09.2009 in Stuttgart, Germany

Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf

Seiten: 4Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Montino, Ralf (Elmos Central IT Services GmbH & Co KG, Dortmund)

Inhalt:
Für eine erfolgreiche Zero Defect Strategie in der Elektronikindustrie stehen robustes Design, stabile Fertigung und sehr gute Teststrategien im Fokus der Betrachtung. Zweifellos sind diese Voraussetzungen notwendig, um die geforderte Zuverlässigkeit zu erreichen. Allerdings sind diese nicht hinreichend. Neben den genannten Punkten ist eine vollständige Überwachung und Regelung der gesamten Prozesse und insbesondere jeglicher Ausnahmefälle unabdingbar. Angesichts der Vielzahl der Schritte, der großen Datenvolumina und der hohen geforderten Qualität ist dieses nur mit einer weitgehenden datentechnischen Abbildung der gesamten Prozesskette in Verbindung mit entsprechender Industrialisierung und Automatisierung darstellbar.