Zero defect: Risikobewertung und -minimierung oder: Wie Gauß und Benz Freunde wurden...

Konferenz: AmE 2011 - Automotive meets Electronics - 2. GMM-Fachtagung
04.05.2011 - 05.05.2011 in Dortmund, Germany

Tagungsband: AmE 2011 - Automotive meets Electronics

Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Czerner, Peter; Montino, Ralf (Elmos Central IT Services GmbH & Co. KG, Dortmund, Deutschland)

Inhalt:
Der Einsatz der Elektronik und Mikrotechnik in modernen Fahrzeugen nimmt stetig zu. Steuerelemente, Prozessoren oder Sensoren erhöhen die Sicherheit und den Komfort der Fortbewegung. Im Gegensatz zur Konsumelektronik, wo die Austauschkosten defekter Geräte und die Erwartung an die Lebensdauer vergleichbar niedrig sind ist die Qualitätsanforderung an die Automobilelektronik immens. Wenn oft 1cm2 defektes Silizium 2 Tonnen Fahrzeug unbrauchbar oder sogar gefährlich machen kann und die Austausch- und Imageschaden um Größenordnungen den Wert des Bauteils überschreiten, ist die Forderung der Automobilzulieferer an die Halbleiterhersteller knapp und klar: Zero defect. Die Komplexität der Herstellung vor Augen stellt sich die Frage: Wie sichert man die vollständige Funktion und Lebensdauer einer elektronischen Schaltung? Risikobewertung, Abhängigkeitsanalyse, Burn-in, PAT, SPC, FMEA und vieles mehr: Anhand praktischer Beispiele wird hier verdeutlicht, wie Wahrscheinlichkeit und Statistik zu den wichtigsten Werkzeugen bei der Qualitätssicherung in der Herstellung von Halbleitern und Sensoren wurden.