Neue Layer-1 Testanforderungen für 100GbE CFP-Modulen

Konferenz: Photonische Netze - 12. ITG-Fachtagung
02.05.2011 - 03.05.2011 in Leipzig, Germany

Tagungsband: Photonische Netze

Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Alpert, Andreas (JDSU, Eningen, Deutschland)

Inhalt:
Der stetig steigende Verkehrszuwachs in den Datennetzen führt zu einer verstärkten Nachfrage nach der nächsten Generation von Ethernet, den 100GbE-Systemen. 100GbE wird vorerst über mehrere optische Übertragungskanäle im Multi-Lane-Konzept übertragen, eine parallele Übertragung von jeweils 25 Gbit/s über vier Wellenlängen (100GBASEER4/LR4). Die optischen Schnittstellen für Sender und Empfänger werden in CFP-Modulen (100Gigabit Small Form Factor Pluggable) integriert. Die Messtechnik spielt gerade in der Einführung-Phase neuer Techniken eine außerordentlich wichtige Rolle, insbesondere erfordert der CFP-Transponder als Schlüsselkomponente eine Verifizierung gegen den Standard IEEE802.3ba. Das Multi-Lane-Konzept bedingt Probleme wie Übersprechen zwischen den elektrischen Leitungen und Bitversatz (Skew) zwischen den parallelen Übertragungskanälen. Ganz wichtig bei IEEE-konformen CFP ist das Testen dieses Bitversatzes bei jedem einzelnen optischen Übertragungskanal und die fehlerfreie Akzeptanz auf der Empfängerseite. Um die Eingangsschaltung zu charakterisieren, wird der 'Stressed Receiver Sensitivity Test' nach IEEE802.3ba benutzt. Diese Methode überprüft den CFP-Transponder mit jitter- und rauschförmigen Eingangssignalen. Damit wird die Übertragungseigenschaften einer Glasfaserstrecke möglichst realistisch simuliert. Die verschiedenen Komponenten schließen das "Auge" zusehends. Vom Empfänger wird ungeachtet der Störeinflüsse ein fehlerfreier Betrieb (Bitfehlerrate von besser 10-12 erwartet.