Eine Methodik zur Analyse erhöhter Beanspruchungen von Halbleiterkomponenten und deren AVT hinsichtlich geänderter Anforderungen im Automobil
Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
27.09.2011 - 29.09.2011 in Hamburg-Harburg, Deutschland
Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf
Seiten: 2Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Hahn, Daniel; Straube, Stefan; Middendorf, Andreas (Fraunhofer IZM, Berlin, Deutschland)
Lochner, Helmut; Abelein, Ulrich (Helmut Lochner, AUDI AG, Ingolstadt, Deutschland)
Lang, Klaus-Dieter (TU-Berlin, Berlin, Deutschland)
Inhalt:
Im Hinblick auf die fortschreitende Elektrifizierung des Automobils unterliegen Steuergeräte und deren Komponenten erhöhten Anforderungen. Im Rahmen des BMBF geförderten Projektes RESCAR 2.0 wird eine Methode erarbeitet, in der ausgehend von den Anforderungen im Automobil Beanspruchungen hinsichtlich relevanter Fehlermechanismen abgeleitet und damit bewertbar gemacht werden sollen. Allgemeines Ziel ist die Möglichkeit zukünftige Anforderungsprofile zu erarbeiten und für den entsprechenden Entwicklungs- und Produktionsprozess hinreichend zu validieren.