Kombinierte Codes mit nichtlinearen Prüfbits

Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
27.09.2011 - 29.09.2011 in Hamburg-Harburg, Deutschland

Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf

Seiten: 2Sprache: EnglischTyp: PDF

Persönliche VDE-Mitglieder erhalten auf diesen Artikel 10% Rabatt

Autoren:
Nieß, Günther; Sogomonyan, Egor; Gössel, Michael (Universität Potsdam, Potsdam, Deutschland)
Kern, Thomas; Rabenalt, Thomas (Infineon Technologies AG, Neubiberg, Deutschland)

Inhalt:
In der vorliegenden Arbeit wird gezeigt, wie man für fehlerkorrigierende Hsiao-Codes die Fehlererkennungswahrscheinlichkeit erhöhen kann, ohne die erforderliche Verzögerungszeit für die Fehlerkorrektur wesentlich zu verlängern. Dabei wird ein innerer (nichtlinearer) fehlererkennender Code Cin und ein äußerer fehlerkorrigierender Code Cout kombiniert.