Kontaktierung von Aluminium-Litzenleitern mittels Crimptechnologie

Konferenz: Kontaktverhalten und Schalten - 21. Fachtagung Albert-Keil-Kontaktseminar
28.09.2011 - 30.09.2011 in Karlsruhe, Germany

Tagungsband: Kontaktverhalten und Schalten

Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Schmidt, Helge; Hauswald, Tanja; Blümmel, Uwe (Tyco Electronics AMP GmbH / TE Connectivity, Bensheim, Deutschland)

Inhalt:
Die Anschlusskontaktierung von Al-Drähten im Vergleich zu Cu-Drähten ist in Folge der Kostenentwicklung und einer möglichen Gewichtseinsparung aktuell. Es wird gezeigt, dass das Kriechverhalten des Aluminiums sich bei einer ordnungsgemäßen Verarbeitung des Aluminiumlitzenleiterdrahtes nur untergeordnet auswirkt, da im F-Crimp eine vergleichsweise andauernde, geringe, mechanische Beanspruchung stattfindet. Es wird im Weiteren dargelegt, dass die dauerhafte Funktion der Verbindung durch partielle Kaltverschweißung des Aluminiums zum Kupfer gegeben ist. Dieses kann durch ein für Aluminium optimales Design der F-Crimphülse mit optimalen Verarbeitungsparametern wie z. B. Crimphöhe optimiert werden. Weiterhin muss die Verbindungsstelle Al/Cu gegenüber Feuchtigkeit und damit elektrochemischer Korrosion abgedichtet werden. Unter Beachtung aller dieser Aspekte ist eine zuverlässige Al-Crimpverbindung darstellbar.