Materialintegrierte Sensorschicht basierend auf Quantum-Dot- Lumineszenz

Konferenz: MikroSystemTechnik - KONGRESS 2011
10.10.2011 - 12.10.2011 in Darmstadt, Deutschland

Tagungsband: MikroSystemTechnik

Seiten: 4Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Martin, Jörg; Piasta, Doreen; Kießling, Torsten; Otto, Thomas; Gessner, Thomas (Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS, Technologie - Campus 3, 09126 Chemnitz, Deutschland)
Staudinger, Ulrike; Demir, Emrah; Pötschke, Petra; Voit, Brigitte (Leibniz-Institut für Polymerforschung Dresden e.V., Hohe Str. 6, 01069 Dresden, Deutschland)

Inhalt:
Die Überwachung mechanischer Strukturen spielt insbesondere im Strukturleichtbau und im Automobilbereich eine große Rolle. Der Einsatz neuer Materialien und Materialverbunde mit neuen mechanischen Eigenschaften führt in diesen Gebieten zu einer Reduzierung von Gewicht, wodurch sich vorhandene Ressourcen wie Roh- und Kraftstoffe effizienter nutzen lassen. Die überwachende Funktion neuartiger Materialien mit teilweise noch unbekannten Ausfall- und Bruchmechanismen kann durch einzelne Sensoren oder Sensornetzwerke, jedoch auch durch sensorische Eigenschaften der Materialien selbst sichergestellt werden. Dieser Artikel beschreibt erste Ergebnisse eines neuartigen Konzepts zur permanenten Speicherung temporärer Kraftangriffe und Überlastungen mechanischer Strukturen innerhalb einer materialintegrierten Quantum-Dot-Schicht.