Automatische Optische Inspektion (AOI) in der Elektronikfertigung
Konferenz: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2012 - Hochentwickelte Baugruppen in Europa - 6. DVS/GMM-Tagung
14.02.2012 - 15.02.2012 in Stuttgart, Deutschland
Tagungsband: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2012
Seiten: 5Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Wölflick, Peter (Continental AG, Nürnberg, Deutschland)
Inhalt:
Inhalt des Beitrags ist der Einsatz von automatisierten optischen und röntgenbasierten in-line-Inspektionssystemen (AOI, AXI) in der Elektronikfertigung mit all seinen Teilaspekten. Der Beitrag gibt einen Überblick über die Konzeption von inline-Inspektion, deren Möglichkeiten sowie den entstehenden Aufwand, wodurch Einsatz und Nutzen in der Fertigung einschätzbar werden. Besonderes Augenmerk wird dabei auf die Besonderheiten in der Automotive-Branche gelegt.