DNL-Verfahren zur Reduktion der ADC-Testzeit und dessen Sicherheitsrisiko
Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 6. GMM/GI/ITG-Fachtagung
25.09,2012 - 27.09.2012 in Bremen, Deutschland
Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf
Seiten: 4Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Rantisi, Mohammed; Sattler, Sebastian (Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 91052 Erlangen, Deutschland)
Inhalt:
Testzeit ist sehr teuer, aber in den meisten Fällen notwendig. Die meiste Zeit wird beim ADC-Test mit dem DNLTestverfahren verbraucht. Es gibt verschiedene Verfahren, die man beim DNL-Test anwenden kann. Das schnellste und effizienteste Verfahren ist das Histogrammverfahren. Je größer die ADC Auflösung ist, desto mehr Testzeit wird benötigt, unabhängig von dem verwendeten Verfahren. Bei einem 16-Bit ADC mit 1 MSPS und einem DNLHistogrammtest von 80 Hits pro Code, beträgt die Testzeit ungefähr 5 Sekunden. Im neu darzustellenden Verfahren wird die Testzeit auf nur noch 77 ms drastisch reduziert. Dies entspricht einem Faktor von 99,9 %. Die Qualität soll dadurch aber nicht beeinflusst werden.