Vergleichende Untersuchungen nicht-konventioneller Auskoppelverfahren zur Teilentladungsmessung an Mittelspannungs-Schaltanlagen

Konferenz: Diagnostik elektrischer Betriebsmittel - ETG-Fachtagung
15.11.2012 - 16.11.2012 in Fulda, Deutschland

Tagungsband: Diagnostik elektrischer Betriebsmittel

Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF

Persönliche VDE-Mitglieder erhalten auf diesen Artikel 10% Rabatt

Autoren:
Rethmeier, K. (FH Kiel, Deutschland)
Hutmacher, R. (ABB Calor Emag, Ratingen, Deutschland)
Kraetge, A.; Hoek, S. (Omicron electronics, Klaus, Austria)

Inhalt:
Vollständig gekapselte Mittelspannungs-Schaltanlagen werden in der Regel mit Spannungsanzeigern nach IEC 61243-5 („Voltage detecting systems (VDS)“ zur eindeutigen Erkennung der Spannungsfreiheit ausgestattet. Viele Hersteller dieser kapazitiven Messabgriffe spezifizieren diese Kondensatoren auch zur Teilentladungsmessung. Aufgrund der Bauweise und des Funktionsprinzips dieser Sensoren ist eine normkonforme kalibrierbare TE-Messung nach IEC 60270 jedoch nicht möglich. Ebenso besteht die Möglichkeit, TE-Impulse an Schaltanlagen mittels induktiver Sensoren an den Kabeleinführungen auszukoppeln. Auch hier ist die Kalibrierbarkeit nach IEC 60270 in der Regel nicht gegeben. Anhand mehrerer künstlicher TE-Fehlstellen innerhalb realer Schaltanlagenfelder wurden im Hochspannungs-Prüffeld eines Schaltanlagenherstellers Vergleichsmessungen mit kapazitiver Auskopplung an LRM-Sensoren (LRMSystems= low-resistance modified systems), induktiver Auskopplung mit HFCT’s und IEC-konformer TE-Auskopplung mittels externem Koppelkondensator durchgeführt. Durch die Verwendung eines vollsynchronen Mehrkanal-TEMesssystems konnte dabei gewährleistet werden, dass jederzeit identische TE-Impulse miteinander verglichen wurden. Im Gegensatz zur Kanalumschaltung mit Multiplexern, bei der verschiedene Zeitspannen mit zeitlich variabler TEAktivität verglichen werden, war so die statistische Grundgesamtheit der TE-Impulse identisch, was einen seriösen Vergleich erst ermöglichen konnte. Die durchgeführten Messungen zeigten je nach TE-Fehlertyp eine erreichbare Messempfindlichkeit von bis hinunter zu 5 pC.