Optimierte Zuverlässigkeitsanalyse eines CMOS-Operationsverstärkers zur Aufnahme von neuronalen Signalen

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Dieser Beitrag beschreibt die zuverlässigkeitsorientierte Untersuchung eines CMOS-Operationsverstärkers, der speziell an die Anforderungen zur Messung neuronaler Aktivitäten im Gehirn angepasst wurde. Bei der Untersuchung steht vor allem der Einfluss von Degradation auf wesentliche Verstärkerparameter im Vordergrund. Die Ergebnisse der Analyse werden in ein Verilog-AMS Modell überführt und können zu einer beschleunigten Simulation des Gesamtsystems auf höheren Hirarchieebenen verwendet werden. Somit kann bereits im Rahmen der Systemkonzeption die Auswirkung von alterungsbedingter Degradierung auf ein Gesamtsystem analysiert und bewertet werden.