Life-cycle engineering – Die Zuverlässigkeit von Steckverbinderkontakten ist kein Zufall

Inhalt:
Die Forderung nach einer Entwicklung innovativer sowie fortschrittlicher Produkte führt dazu, dass verschiedenste Rahmenbedingungen einzuhalten sind. Dazu gehören neben einer marktgerechten Konstruktion und Kostenstruktur, die rechtzeitige Verfügbarkeit der Produkte. Im Fokus stehen vor allem eine überzeugende Qualität sowie eine lange Lebensdauer mit entsprechendem Langzeitverhalten. Mit Hilfe des in dieser Studie erarbeiteten Modells, den zugehörigen Lebensdauerversuchen und der statistischen Auswertung werden Ausfallwahrscheinlichkeit, Überlebenswahrscheinlichkeit und Ausfallrate eines neuentwickelten Steckverbinderkontaktes abgeleitet. Die Definition und Durchführung der hierfür notwendigen Testszenarien erfolgte über die Beschreibung des Fehlerverhaltens unter der Berücksichtigung des Einsatzprofiles. Eine Verkürzung der Lebensdauerversuche ist dabei z.B. mit den aus der Literatur bekannten Modellen bzw. Beschleunigungsalgorithmen wie nach Arrhenius, Hallberg – Peck und Coffin-Manson möglich. Die Lebensdauerversuche wurden dabei nicht nur statistisch ausgewertet, sondern die hierbei induzierten Ausfälle wurden oberflächenanalytisch untersucht. Ziel dieser Untersuchungen ist es, die Auswirkung der verschiedenen Klimata auf die Ausfallmechanismen zu charakterisieren, um einerseits ein tieferes Verständnis der zugrundeliegenden kontaktphysikalischen Wirkzusammenhänge zu erarbeiten und um andererseits eine Bestätigung der angewendeten Beschleunigungsmodelle zu erhalten.