Robuste Erkennung von kombinierten Positions- und Identifizierungs-Mikromarkierungen
Konferenz: MikroSystemTechnik 2015 - MikroSystemTechnik Kongress 2015
26.10.2015 - 28.10.2015 in Karlsruhe, Deutschland
Tagungsband: MikroSystemTechnik 2015
Seiten: 3Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Förtsch, Tobias C.; Bojnicic-Kninski, Clemens von; Khan, M. Shahbaz; Märkle, Frieder; Weber, Laura K.; Fischer, Andrea; Münster, Bastian; Ridder, Barbara; Althuon, Daniela; Striffler, Jakob; Sedlmayr, Martyna; Bykovskaya, Valentina; Popov, Roman; Soehindrijo, Miriam; Breitling, Frank; Löffler, Felix F.; Nesterov-Müller, Alexander (Institut für Mikrostrukturtechnik, Hermann-von-Helmholtz-Platz 1, 76344 Eggenstein-Leopoldshafen, Deutschland)
Inhalt:
Die automatische Erkennung von Positionsmarkierungen kann bei geeigneter Gestaltung der Markierungen nicht nur fehlertolerant umgesetzt werden, sondern auch gleichzeitig eine Identifizierung der Werkstücke beinhalten. Wir haben systematisch Varianten von Mikromarkierungen ausgewählt und stellen eine Methode vor, mit der Positionsmarker auf µm genau und robust detektiert sowie 33.554.432 Identifikationsnummern kodiert werden können.