Absicherung von Kontaktgeometrien durch computergestützte dielektrische Spannungsfestigkeitsanalyse
Konferenz: VDE-Hochspannungstechnik 2016 - ETG-Fachtagung
14.11.2016 - 16.11.2016 in Berlin, Deutschland
Tagungsband: VDE-Hochspannungstechnik 2016
Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Glaser, Beate; Fuchs, Karsten; Sterz, Oliver; Krämer, Axel (Maschinenfabrik Reinhausen GmbH, Regensburg, Deutschland)
Inhalt:
Dieser Beitrag zeigt, wie die computergestützte dielektrische Spannungsfestigkeitsanalyse im Produktentwicklungsprozess genutzt wird, um Änderungen aufgrund nicht-elektrischer Anforderungen an einem bestehenden Kontaktsystem abzusichern. Dafür wird das Streamerkriterium als eine etablierte Methode für die Bewertung der Spannungsfestigkeit in inhomogenen elektrischen Feldern vorgestellt und die Anwendung dieser Methode am vorliegenden Beispiel ausführlich gezeigt.