DAISI - Digital Automated Interferometer Surface Inspection
Konferenz: Optische und elektronische Verbindungstechnik 2005 - GMM-Fachtagung
28.09.2005 in Fankfurt/M, Deutschland
Tagungsband: Optische und elektronische Verbindungstechnik 2005
Seiten: 3Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Zimnol, Marco (Diamond GmbH, Leinfelden-Echterdingen, Deutschland)
Inhalt:
Die Stirnflächengeometrie ist eine wesentliche Größe für hochwertige LWL-Steckverbindungen. Sie ist die Voraussetzung zum Erreichen niedriger Einfügedämpfungswerte und geringster Reflexionen. Die Beobachtung dieser Parameter führt zu einer Verifikation der Fertigungsparameter und kann somit als laufende Prozeßkontrolle eingesetzt werden. Die daraus resultierende Anforderung, schnell und fertigungsgerecht zu messen, wird anhand des vorgestellten Meßsystems aufgezeigt.