Feldprogrammierbare Gatterlogik für zuverlässigen HF-Transceiver- und Mixed-Signal-Test

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State-of-the-Art automatisierte Tester (Automated Test Equipment - ATE) für den Produktionstest von modernen HF-Transceivern werden heutzutage durch ihre Ressourcen für die digitale Signalverarbeitung und die vorhandene Datenübertragungsrate begrenzt. Diese Einschränkungen können jedoch durch den Einsatz von feldprogrammierbarer Gatterlogik (Field Programmable Gate Array - FPGA) auf dem Tester-Interface-Board überwunden werden. Dabei wird die FPGA-Hardware zwischen ATE und Device-under-Test (DUT) geschaltet. Die beschriebene, im FPGA implementierte Architektur unterstützt den modularen und hierarchischen Ansatz zur Bewältigung von Signalverarbeitungsaufgaben, wie auch den Test vorhandener digitaler Hochgeschwindigkeitsschnittstellen. Die Testabdeckung während des Produktionstests kann damit bei gleichzeitig sinkenden Testkosten nachhaltig erhöht werden. Die damit zu erreichende höhere Testqualität führt ebenfalls zu einer Verbesserung der garantierten Zuverlässigkeit von HF-Transceivern in der Anwendung.