Mikrocontroller basierter Mixed-Signal Test

Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
26.03.2007 - 28.03.2007 in München

Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf

Seiten: 2Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Mattes, H.; Kirmser, S.; Sattler, S. (Infineon Technologies, Neubiberg, Deutschland)

Inhalt:
Dieser Kurzartikel fasst die Ergebnisse einer Studie zum Produktionstest von in Mikrocontrollern integrierten Analog-Digital-Wandlern (ADCs) zusammen. Bei den heute üblichen Testverfahren werden die digitalen und analogen Teststimuli von den Signalquellen eines Mixed-Signal-Testers zur Verfügung gestellt. Die gemessenen digitalen Testantworten werden in einem testereigenen Speicher abgelegt und anschließend zur Auswertung an die Prozessoreinheit des Testers übertragen und dort ausgewertet. Im Rahmen der Studie wurde untersucht, inwieweit Teile dieser Verarbeitungskette von dem Tester auf die digitalen Verarbeitungsblöcke eines Mikrocontrollers übertragen werden können. Die Untersuchungen wurden an einem 32-Bit und einem 16-Bit Mikrocontroller durchgeführt. Ein dynamischer ADC-Test, der sowohl die Erzeugung des analogen Eingangssignals als auch die Auswertung der digitalen Testantworten beinhaltet, wurde auf beiden Controllertypen implementiert. Es zeigt sich, dass nicht nur die Leistungsfähigkeit des Prozessorkerns die Effizienz des Verfahrens bestimmt, sondern die Gesamtarchitektur des Bausteins eine entscheidende Rolle spielt. Mit dieser Methodik lassen sich erhebliche Testerressourcen einsparen, die zu einer Erhöhung der Parallelisierung des Produktionstests ohne Abstriche bei der Qualität genutzt werden können.